Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications III

Uitgever: SPIE Press
Taal: Engels
Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications III

Samenvatting

Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.
Nog geen reviews

Productspecificaties

Inhoud

Taal
Engels
Bindwijze
Paperback
Verschijningsdatum
2015-02-28
Aantal pagina's
277 pagina's
Illustraties
Nee

Betrokkenen

Redacteur
Sen Han
Co-redacteur
Toru Yoshizawa
Uitgever
SPIE Press

EAN

EAN
9781628413496

Overige kenmerken

Oorspronkelijke releasedatum
2015-02-28

Je vindt dit artikel in

Categorieën
Taal
Engels
Boek, ebook of luisterboek?
Boek
Studieboek of algemeen
Algemene boeken
Bindwijze: Paperback
208 -
Verwacht over 7 weken Tooltip
Verkoop door bol.com
In winkelwagen
  • Gratis verzending
  • 30 dagen bedenktijd en gratis retourneren
  • Ophalen bij een bol.com afhaalpunt mogelijk
  • Dag en nacht klantenservice