Terug Terug

Proceedings of SPIE- Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications III

Uitgever: SPIE Press
Taal: Engels

Afbeeldingen

Artikel vergelijken

Bekijk nu
  • Engels
  • Paperback
  • 9781628413496
  • 28 februari 2015
  • 277 pagina's
Alle productspecificaties

Samenvatting

Proceedings of SPIE offer access to the latest innovations in research and technology and are among the most cited references in patent literature.

Productspecificaties

Inhoud

Taal
en
Bindwijze
Paperback
Oorspronkelijke releasedatum
28 februari 2015
Aantal pagina's
277
Illustraties
Nee

Betrokkenen

Hoofdredacteur
Sen Han
Tweede Redacteur
Toru Yoshizawa
Co Redacteur
Song Zhang
Hoofduitgeverij
SPIE Press

Overige kenmerken

Product breedte
152 mm
Product lengte
229 mm
Studieboek
Ja
Verpakking breedte
152 mm
Verpakking hoogte
229 mm
Verpakking lengte
229 mm

EAN

EAN
9781628413496

Je vindt dit artikel in

Categorieën
Taal
Engels
Boek, ebook of luisterboek?
Boek
Studieboek of algemeen
Studieboeken

Reviews
Nog geen reviews
Hoe controleren en plaatsen wij reviews? Hoe controleren en plaatsen wij reviews?

Negatief, positief, neutraal: we zetten een review altijd online. We controleren wel eerst of ’ie voldoet aan onze reviewvoorwaarden en niet nep is. We controleren ook of ’ie is geschreven door iemand die het artikel heeft gekocht via bol.com en zetten dit er dan bij. De controles gebeuren automatisch, al kijken er soms mensen mee. Bol.com betaalt niet voor reviews. Als een reviewer door een andere partij is vergoed, staat dit in de review zelf.

Kies gewenste uitvoering

Bindwijze : Paperback

Prijsinformatie en bestellen

Niet leverbaar

Ontvang eenmalig een mail of notificatie via de bol app zodra dit artikel weer leverbaar is.

Stuur mij een bericht Je hoort van ons
Houd er rekening mee dat het artikel niet altijd weer terug op voorraad komt.

Lijst met gekozen artikelen om te vergelijken

Vergelijk artikelen