Testability Concepts for Digital Ics The Macro Test Approach
Afbeeldingen
Sla de afbeeldingen overArtikel vergelijken
Auteur:
F.P.M. Beenker
R.G. Bennetts
Co-auteur:
A.P. Thijssen
A. P. Thijssen
- Engels
- Paperback
- 9781461360049
- 04 oktober 2012
- 224 pagina's
Samenvatting
Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. Thirdly, knowledge of how to create a test program for an IC which is targeted on detecting these defects, and finally, understanding of the hardware, Automatic Test Equipment, to run the test on.
Productspecificaties
Wij vonden geen specificaties voor jouw zoekopdracht '{SEARCH}'.
Inhoud
- Taal
- en
- Bindwijze
- Paperback
- Oorspronkelijke releasedatum
- 04 oktober 2012
- Aantal pagina's
- 224
- Illustraties
- Nee
Betrokkenen
- Hoofdauteur
- F.P.M. Beenker
- Tweede Auteur
- R.G. Bennetts
- Co Auteur
- A. P. Thijssen
- Hoofduitgeverij
- Springer-Verlag New York Inc.
Overige kenmerken
- Editie
- Softcover reprint of the original 1st ed. 1995
- Extra groot lettertype
- Nee
- Product breedte
- 155 mm
- Product lengte
- 235 mm
- Studieboek
- Ja
- Verpakking breedte
- 155 mm
- Verpakking hoogte
- 235 mm
- Verpakking lengte
- 235 mm
- Verpakkingsgewicht
- 454 g
EAN
- EAN
- 9781461360049
Je vindt dit artikel in
- Categorieën
- Taal
- Engels
- Boek, ebook of luisterboek?
- Boek
- Studieboek of algemeen
- Algemene boeken
Kies gewenste uitvoering
Bindwijze
: Paperback
Prijsinformatie en bestellen
Rapporteer dit artikel
Je wilt melding doen van illegale inhoud over dit artikel:
- Ik wil melding doen als klant
- Ik wil melding doen als autoriteit of trusted flagger
- Ik wil melding doen als partner
- Ik wil melding doen als merkhouder
Geen klant, autoriteit, trusted flagger, merkhouder of partner? Gebruik dan onderstaande link om melding te doen.