Electron Beam Testing Technology

Uitgever: Springer-Verlag New York Inc.
Taal: Engels

Afbeeldingen

Artikel vergelijken

Bekijk nu
  • Engels
  • Paperback
  • 9781489915245
  • 04 juni 2013
  • 478 pagina's
Alle productspecificaties

Samenvatting

Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

Productspecificaties

Inhoud

Taal
en
Bindwijze
Paperback
Oorspronkelijke releasedatum
04 juni 2013
Aantal pagina's
478
Illustraties
Nee

Betrokkenen

Hoofdredacteur
John T.L. Thong
Hoofduitgeverij
Springer-Verlag New York Inc.

Overige kenmerken

Editie
Softcover reprint of the original 1st ed. 1993
Extra groot lettertype
Nee
Product breedte
178 mm
Product lengte
254 mm
Studieboek
Nee
Verpakking breedte
178 mm
Verpakking hoogte
254 mm
Verpakking lengte
254 mm
Verpakkingsgewicht
905 g

EAN

EAN
9781489915245

Je vindt dit artikel in

Categorieën
Boek, ebook of luisterboek?
Boek
Taal
Engels
Studieboek of algemeen
Algemene boeken

Reviews
Nog geen reviews
Hoe controleren en plaatsen wij reviews? Hoe controleren en plaatsen wij reviews?

Negatief, positief, neutraal: we zetten een review altijd online. We controleren wel eerst of ’ie voldoet aan onze reviewvoorwaarden en niet nep is. We controleren ook of ’ie is geschreven door iemand die het artikel heeft gekocht via bol.com en zetten dit er dan bij. De controles gebeuren automatisch, al kijken er soms mensen mee. Bol.com betaalt niet voor reviews. Als een reviewer door een andere partij is vergoed, staat dit in de review zelf.

Kies gewenste uitvoering

Bindwijze : Paperback

Prijsinformatie en bestellen

Niet leverbaar

Ontvang eenmalig een mail of notificatie via de bol app zodra dit artikel weer leverbaar is.

Stuur mij een bericht Je hoort van ons
Houd er rekening mee dat het artikel niet altijd weer terug op voorraad komt.