Je leest ebooks gemakkelijk op je Kobo e-reader, of op je smartphone of tablet met de bol.com Kobo app. Let op! Ebooks kunnen niet geannuleerd of geretourneerd worden.
Samenvatting
This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory. The author discusses background selection and address reordering algorithms in multi-run transparent march testing processes. Formal methods for multi-run test generation and many solutions to increase their efficiency are described in detail. All methods presented ideas are verified by both analytical investigations and numerical simulations.
Provides the first book related exclusively to the problem of multi-cell fault detection by multi-run tests in memory testing process;
Presents practical algorithms for design and implementation of efficient multi-run tests;
Demonstrates methods verified by analytical and experimental investigations.
Negatief, positief, neutraal: we zetten een review altijd online. We controleren wel eerst of ’ie voldoet aan onze reviewvoorwaarden en niet nep is. We controleren ook of ’ie is geschreven door iemand die het artikel heeft gekocht via bol.com en zetten dit er dan bij. De controles gebeuren automatisch, al kijken er soms mensen mee. Bol.com betaalt niet voor reviews. Als een reviewer door een andere partij is vergoed, staat dit in de review zelf.
Houd er rekening mee dat je downloadartikelen niet kunt annuleren of retourneren. Bij nog niet verschenen producten kun je tot de verschijningsdatum annuleren.
