Zuverlaessige Bauelemente fuer elektronische Systeme Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung
Afbeeldingen
Artikel vergelijken
Auteur:
Titu-Marius I. BăJenescu
- Duits
- Hardcover
- 9783658221775
- 25 januari 2020
- 639 pagina's
Samenvatting
Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.
Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.
Der Inhalt
Zuverlässigkeit einbauen - Verpackungstechnologien und Zuverlässigkeit - Memristor, der Speicherwiderstand - Test und Testbarkeit integrierter Schaltungen - Zuverlässigkeit diskreter passiver Bauelemente - Zuverlässigkeit von Leistungsbauelementen - Zuverlässigkeit monolithisch integrierter Schaltungen - Aspekte der Zuverlässigkeit von Halbleiterspeichern und Mikroprozessoren - Zuverlässigkeit optoelektronischer Komponenten - Zuverlässigkeit von Mikro- und Nanosystemen – Ausfallanalyse
Die Zielgruppen
Ingenieure, Informatiker und Physiker in der PraxisStudierende der Elektrotechnik an Fachschulen, Fachhochschulen, höheren technischen Lehranstalten und technischen Universitäten
Der Autor
Titu-Marius I. Băjenescu ist emeritierter Universitätsprofessor und war zuletzt als unabhängiger Berater in den Bereichen Telekommunikation, Zuverlässigkeit, Qualität und Sicherheit elektronischer Systeme tätig. Er hat an zahlreichen europäischen Universitäten geforscht und gelehrt und für seine Leistungen zwei Ehrendoktortitel erhalten. Er ist Autor mehrerer Bücher zum Thema elektronischer Bauelemente in französischer, rumänischer, englischer und deutscher Sprache.
Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.
Der Inhalt
Zuverlässigkeit einbauen - Verpackungstechnologien und Zuverlässigkeit - Memristor, der Speicherwiderstand - Test und Testbarkeit integrierter Schaltungen - Zuverlässigkeit diskreter passiver Bauelemente - Zuverlässigkeit von Leistungsbauelementen - Zuverlässigkeit monolithisch integrierter Schaltungen - Aspekte der Zuverlässigkeit von Halbleiterspeichern und Mikroprozessoren - Zuverlässigkeit optoelektronischer Komponenten - Zuverlässigkeit von Mikro- und Nanosystemen – Ausfallanalyse
Die Zielgruppen
Ingenieure, Informatiker und Physiker in der PraxisStudierende der Elektrotechnik an Fachschulen, Fachhochschulen, höheren technischen Lehranstalten und technischen Universitäten
Der Autor
Titu-Marius I. Băjenescu ist emeritierter Universitätsprofessor und war zuletzt als unabhängiger Berater in den Bereichen Telekommunikation, Zuverlässigkeit, Qualität und Sicherheit elektronischer Systeme tätig. Er hat an zahlreichen europäischen Universitäten geforscht und gelehrt und für seine Leistungen zwei Ehrendoktortitel erhalten. Er ist Autor mehrerer Bücher zum Thema elektronischer Bauelemente in französischer, rumänischer, englischer und deutscher Sprache.
Productspecificaties
Wij vonden geen specificaties voor jouw zoekopdracht '{SEARCH}'.
Inhoud
- Taal
- de
- Bindwijze
- Hardcover
- Oorspronkelijke releasedatum
- 25 januari 2020
- Aantal pagina's
- 639
- Illustraties
- Nee
Betrokkenen
- Hoofdauteur
- Titu-Marius I. BăJenescu
- Hoofduitgeverij
- Springer Vieweg
Overige kenmerken
- Editie
- 1. Aufl. 2020
- Extra groot lettertype
- Nee
- Product breedte
- 168 mm
- Product lengte
- 240 mm
- Studieboek
- Ja
- Verpakking breedte
- 168 mm
- Verpakking hoogte
- 240 mm
- Verpakking lengte
- 240 mm
- Verpakkingsgewicht
- 1482 g
EAN
- EAN
- 9783658221775
Je vindt dit artikel in
- Categorieën
- Taal
- Duits
- Boek, ebook of luisterboek?
- Boek
- Studieboek of algemeen
- Studieboeken
Kies gewenste uitvoering
Bindwijze
: Hardcover
Prijsinformatie en bestellen
Rapporteer dit artikel
Je wilt melding doen van illegale inhoud over dit artikel:
- Ik wil melding doen als klant
- Ik wil melding doen als autoriteit of trusted flagger
- Ik wil melding doen als partner
- Ik wil melding doen als merkhouder
Geen klant, autoriteit, trusted flagger, merkhouder of partner? Gebruik dan onderstaande link om melding te doen.